Fluke 414D 雷射測距儀
Fluke 414D
將 Fluke 414D 置於工具帶上，其測量距離超過常規的卷尺 -- 達 50 米（165 英尺）。專業級鐳射測距儀測量速度快、簡單易用、可提高精確度並減少測量誤差。在每一個步驟，您均可以節省時間和成本。
產品介紹
一鍵操作便可立即刻測量，測距達 50m（165 英尺）。鐳射測量精度為 +/- 2mm (0.08 in)。簡單、自動計算面積和體積，輕鬆完成加減運算。
414D 可減少誤差、節省時間、降低成本。
特性：
- 測量距離最先進的雷射技術
- 只需一鍵操作，即刻便可測量兩個物體之間的距離
- 測量距離達 50 m (165 ft)，精度為 2 mm (0.08 in)
- 即使在更遠的距離，明亮的鐳射也可輕鬆定位
- 快速計算面積（平方英尺/米）和體積
- 簡單的加減運算功能
- 利用其它兩個測量值，畢氏定理可間接測量高度
- 最多存儲 5 條測量結果
- 電池壽命可供進行 3000 次測量，具備自動關閉功能
- 兩行顯示，且具備持續顯示功能（直至按下下一個按鈕）
- 便攜袋固定在工具帶上
- 由兩顆 AAA 電池供電
上述所有儀器均具備以下功能和優點：
- 減少估算誤差，節省時間和成本
- 測量距離最先進的 2 級雷射技術
- 只需一鍵操作即可完成即時測量
- 簡單的加減運算功能
- 快速計算面積（建築面積）和體積
- 加減測量值簡單方便
- 最小/最大功能
- 自動關閉功能可增長電池壽命
- 運用畢達哥拉斯計算法間接測定與其他兩個測量點的距離
- 帶 Fluke 徽標的便攜袋
- 三年保固
規格
| 414D | 419D | 424D | |
| 測量距離 | |||
| 典型測量公差[1] | ± 2.0 mm [3] | ± 1.0 mm [3] | |
| 最大測量公差[2] | ± 3.0 mm [3] | ± 2.0 mm [3] | |
| 在 Leica 目標板 GZM26 的範圍 | 50 m (165 ft) | 80 m (260 ft) | 100 m (330 ft) |
| 典型距離[1] | 40 m (130 ft) | 80 m (260 ft) | 80 m (260 ft) |
| 不利條件下的範圍[4] | 35 m (115 ft) | 60 m (195 ft) | 60 m (195 ft) |
| 顯示的最小單位 | 1 mm (1/16 in) | 6 /30 / 60 mm (10 / 50 / 100 m) | |
| ∅ 下列距離的雷射點 | 6 /30 / 60 mm (10 / 50 / 100 m) | 6 /30 / 60 mm (10 / 50 / 100 m) | |
| 傾斜測量 | |||
| 雷射光束的測量公差[5] | 否 | 否 | ± 0.2° |
| 外殼的測量公差[5] | 否 | 否 | ± 0.2° |
| 範圍 | 否 | 否 | 360° |
| 一般 | |||
| 雷射等級 | 2 | ||
| 雷射類型 | 635 nm，<1 mW | ||
| 保護等級 | IP40 | IP54 | |
| 自動關閉雷射 | 90 秒後 | ||
| 自動關閉電源 | 180 秒後 | ||
| 電池壽命 (2 x AAA) 1.5 V NEDA 24A/IEC LR03 | 多達 3,000 筆測量 | 多達 5,000 筆測量 | |
| 尺寸 (高 x 寬 x 長) | 116mm 長度 53mm 寬度 33mm 深度 | 127mm 長度 56mm 寬度 33mm 深度 | 127mm 長度 56mm 寬度 33mm 深度 |
| 重量 (含電池) | 113 g | 153 g | 158 g |
| 溫度範圍：儲存操作 | -25 °C 至 +70°C (-13 °F 至 +158 °F) 0 °C 至 +40 °C (32 °F 至 +104 °F) | -25 °C 至 +70°C (-13 °F 至 +158 °F) -10 °C 至 +50 °C (14 °F 至 +122 °F) | |
| 校正週期 | 不適用 | 不適用 | 傾斜與羅盤 |
| 最大高度 | 3000 m | 3000 m | 3000 m |
| 最大相對濕度 | 20 °F 至 120°F (-7 °C 至 50 °C) 時為 85% | 20 °F 至 120°F (-7 °C 至 50 °C) 時為 85% | 20 °F 至 120°F (-7 °C 至 50 °C) 時為 85% |
| 安全性 | IEC 標準編號61010-1:2001 EN60825-1:2007 (Class II) | ||
| EMC | EN 55022:2010 EN 61000-4-3:2010 EN 61000-4-8:2010 | ||
| [1] 適用於 100 % 目標反射性 (漆為白色的牆面)、低背景照明、25 °C。 [2] 適用於 10 至 500 % 目標反射性、高背景照明、-10 °C 至 +50 °C。 [3] 公差適用於從 0.05 m 至 10 m，信賴水準為 95 %。在 10 m 至 30 m 的距離之間，最大公差可能劣化為 0.1 mm/m；30 m 以上的距離則可能劣化為 0.15 mm/m。 [4] 適用於 100 % 目標反射性、背景照明介於 10,000 lux 和 30,000 lux 之間。 [5] 在使用者校正後。每度的額外角度相關偏差為 ±0.01°，每一象限最高為 ±45°。適用於室溫。若為整個操作溫度範圍，最大偏差則增加 ±0.1°。 | |||
型號資訊
| 型號 | 內容 |
| Fluke 414D | 雷射測距儀 包括：
|
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